導(dǎo)致晶振托盤(pán)損壞的因素
什么因素會(huì)損壞晶振托盤(pán)，原因如下：
1、在生產(chǎn)過(guò)程中有摔落現(xiàn)象，因?yàn)榫鄬?duì)較薄，外界的過(guò)度沖擊力會(huì)造成損傷，需要輕拿輕放。
2、產(chǎn)品焊接與電路板連接時(shí)，焊接溫度過(guò)高，可能導(dǎo)致產(chǎn)品不良。
3、焊接過(guò)程中產(chǎn)生假焊，即假焊，使產(chǎn)品不帶電。
4、產(chǎn)品焊接后，
晶振托盤(pán)焊料與線(xiàn)路連接，產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
5、在檢漏過(guò)程中，即在酒精壓力環(huán)境下，產(chǎn)品容易接觸到殼體，即晶片和殼體在發(fā)生振動(dòng)時(shí)容易接觸，從而晶體容易發(fā)生時(shí)振時(shí)不振或停。
6、在晶振托盤(pán)密封時(shí)，產(chǎn)品中需要真空充氮，如果晶體密封不好，在酒精壓力下，它的特點(diǎn)是泄漏，稱(chēng)為雙重泄漏，也會(huì)導(dǎo)致關(guān)閉。
晶振行業(yè)治具
13771550325
